jhChun 0b3f845ebd 양산 모드인 경우 BLE 보안 실패 처리 개선 ...

- PM 핸들러 중복 호출 제거
- conn_sec_failed 재페어링 로직 일원화
- NRF_ERROR_BUSY 크래시 수정: 보안 실패 시 보드 리셋되는 현상 개선

2026-03-27 16:47:46 +09:00

..

hex

cpd_eraseALL.bat 추가: 전체 erase 개발용 플래싱 스크립트

2026-03-27 10:50:56 +09:00

icm42670p

현재 IMU 센서는 폴링 방식 적용

2026-03-26 11:06:52 +09:00

pca10056/s140

내부 전압 변환 방식 변경 LDO -> DC-DC

2026-03-25 15:46:22 +09:00

battery_saadc.c

배터리, 온도 SAADC 해상도 12bit 전환 및 float 연산 적용

2026-03-27 16:12:31 +09:00

battery_saadc.h

배터리 전압 TACQ 조정 및 콜백 대기 조건 변경

2026-03-27 13:54:39 +09:00

debug_print.h

maa samples 140->100 변경, mec/maa 수신 시 Piezo 자동 Active/Sleep

2026-03-17 18:03:04 +09:00

fstorage.c

Firmware 버전 식별 코드 정의를 main.h로 이동

2026-03-27 10:05:46 +09:00

fstorage.h

DEFAULT_PASSKEY 매크로 통합 + advertising_start 조건 변경

2026-03-27 16:17:09 +09:00

i2c_manager.c

maa samples 140->100 변경, mec/maa 수신 시 Piezo 자동 Active/Sleep

2026-03-17 18:03:04 +09:00

i2c_manager.h

maa samples 140->100 변경, mec/maa 수신 시 Piezo 자동 Active/Sleep

2026-03-17 18:03:04 +09:00

main_timer.c

- Piezo 6ch 측정 + 센서(배터리, IMU, 온도) 측정: mbb 명령어 추가

2026-03-18 13:54:06 +09:00

main_timer.h

maa samples 140->100 변경, mec/maa 수신 시 Piezo 자동 Active/Sleep

2026-03-17 18:03:04 +09:00

main.c

양산 모드인 경우 BLE 보안 실패 처리 개선

2026-03-27 16:47:46 +09:00

main.h

Firmware 버전 식별 코드 정의를 main.h로 이동

2026-03-27 10:05:46 +09:00

power_control.c

EEPROM 레거시 코드 정리

2026-03-26 11:39:12 +09:00

power_control.h

EEPROM 레거시 코드 정리

2026-03-26 11:39:12 +09:00

pulse_gen.c

- Piezo 6ch 측정 + 센서(배터리, IMU, 온도) 측정: mbb 명령어 추가

2026-03-18 13:54:06 +09:00

pulse_gen.h

maa samples 140->100 변경, mec/maa 수신 시 Piezo 자동 Active/Sleep

2026-03-17 18:03:04 +09:00

tmp235_q1.c

배터리, 온도 SAADC 해상도 12bit 전환 및 float 연산 적용

2026-03-27 16:12:31 +09:00

tmp235_q1.h

maa samples 140->100 변경, mec/maa 수신 시 Piezo 자동 Active/Sleep

2026-03-17 18:03:04 +09:00

VesiScan.code-workspace

VesiScan BASIC origin: Piezo + IMU firmware initial code

2026-03-11 10:40:20 +09:00